陶瓷、半導體以及多層膜截面透射電鏡試樣的制樣方法
發(fā)布日期:2012-07-21
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(1)塊狀樣切成約0.3mm厚的均勻薄片; (2)均勻薄片用石蠟粘貼于超聲波切割機樣品座上的載玻片上; (3)用超聲波切割機沖成Ф3mm 的圓片; (4)用金剛砂紙機械研磨到約100μm厚; (5)用磨坑儀在圓片中央部位磨成一個凹坑,凹坑深度約50~70μm,凹坑目的主要是為了減少后序離子減薄過程時間,以提高最終減薄效率; (6)將潔凈的、已凹坑的Ф3mm 圓片小心放入離子減薄儀中,根據(jù)試樣材料的特性,選擇合適的離子減薄參數(shù)進行減??;通常,一般陶瓷樣品離子減薄時間需2~3天;整個過程約5天。 注意事項: (1)凹坑過程試樣需要精確的對中,先粗磨后細磨拋光,磨輪負載要適中,否則試樣易破碎; (2)凹坑完畢后,對凹坑儀的磨輪和轉軸要清洗干凈; (3)凹坑完畢的試樣需放在丙酮中浸泡、清洗和涼干; (4)進行離子減薄的試樣在裝上樣品臺和從樣品臺取下這二過程,需要非常的小心和細致的動作,因為此時Ф3mm薄片試樣的中心已非常薄,用力不均或過大,很容易導致試樣破碎。 (5)需要很好的耐心,欲速則不達。